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shuān suǒ xiào yīng

闩锁效应

  • 拼音shuān suǒ xiào yīng
  • 注音ㄕㄨㄢ ㄙㄨㄛˇ ㄒㄧㄠˋ ㄧㄥ
  • 词语解释

    闩锁效应[ shuān suǒ xiào yīng ]

    闩锁效应(Latch-up)是CMOS集成电路中一个重要的问题,这种问题会导致芯片功能的混乱或者电路直接无法工作甚至烧毁。